{"id":7876,"date":"2024-10-28T13:33:27","date_gmt":"2024-10-28T13:33:27","guid":{"rendered":"https:\/\/www.publiteconline.it\/costruire-stampi\/?p=7876"},"modified":"2024-10-28T13:33:32","modified_gmt":"2024-10-28T13:33:32","slug":"metrologia-tattile-ottica-e-microscopia-in-ununica-soluzione","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.publiteconline.it\/costruire-stampi\/metrologia-tattile-ottica-e-microscopia-in-ununica-soluzione\/","title":{"rendered":"Metrologia tattile, ottica e microscopia in un’unica soluzione"},"content":{"rendered":"\n

La nuova macchina di misura multifunzionale ZEISS<\/a><\/strong> O-INSPECT duo combina la tecnologia e il software della metrologia tattile e ottica con quelli della microscopia, coprendo cos\u00ec due importanti aree di applicazione nel controllo qualit\u00e0 di un’ampia gamma di componenti.<\/h2>\n\n\n\n

di Adriano Moroni<\/p>\n\n\n\n

Misurare componenti di piccole dimensioni<\/strong>: \u00e8 questa la caratteristica che contraddistingue ZEISS O-INSPECT duo<\/strong>, macchina di misura multifunzionale che combina la tecnologia e il software della metrologia tattile e ottica con quelli della microscopia<\/strong>, coprendo cos\u00ec due importanti aree di applicazione nel controllo qualit\u00e0<\/strong> di un’ampia gamma di componenti. Il sistema \u00e8 stato inoltre sviluppato appositamente per le applicazioni in cui \u00e8 richiesta una combinazione di misurazione dimensionale e ispezione<\/strong>, tra cui segmentazione, cucitura, imaging a colori ed elaborazione delle immagini. La combinazione di tecnologia di misurazione 3D<\/strong> e ispezione microscopica<\/strong> aumenta l’efficienza e fa risparmiare spazio nei reparti di controllo qualit\u00e0<\/strong>.<\/p>\n\n\n\n

Microscopio di grandi dimensioni per un’ispezione che risparmia risorse<\/h3>\n\n\n\n

Grazie alla presenza del microscopio pi\u00f9 grande di ZEISS<\/strong>, i tecnici del controllo qualit\u00e0<\/strong> possono ispezionare i componenti nella loro interezza. In questo modo si conservano risorse preziose, si risparmia tempo e si riducono le fonti di errore che possono derivare dal trasporto di pezzi tra sistemi diversi. In alternativa, ZEISS O-INSPECT<\/strong> duo <\/strong>pu\u00f2 anche essere utilizzato per ispezionare molti componenti piccoli in un’unica sequenza di misura<\/strong>.
Mentre le immagini in bianco e nero forniscono forti contrasti in metrologia, le immagini a colori offrono un vantaggio nell’analisi microscopica: l’ottica ad alta risoluzione con telecamera a colori rende visibili e affidabili anche i difetti pi\u00f9 piccoli. Ci\u00f2 consente di effettuare ispezioni e analisi precise<\/strong>. Grazie alla fotocamera da 5 megapixel, la tecnologia di misura non perde in precisione.<\/p>\n\n\n\n

Misura tattile e ottica con elevata precisione<\/h3>\n\n\n\n

ZEISS O-INSPECT<\/strong> duo<\/strong> comprende sia la tecnologia di misura ottica che quella tattile. Grazie alla misurazione ottica<\/strong>, i componenti sensibili possono essere misurati e analizzati senza contatto e con la massima precisione, riducendo i tempi di misura. Ci\u00f2 \u00e8 possibile grazie alla luce anulare regolabile di nuova concezione, all’ampio campo visivo con elevata nitidezza dell’immagine e all’elevata fedelt\u00e0 dell’immagine, anche nelle aree periferiche.
Le misure 3D tattili<\/strong> possono essere eseguite in modo particolarmente rapido e preciso con il sensore ZEISS VAST XXT<\/strong>, acquisendo un gran numero di punti di misura con un unico movimento.<\/p>\n\n\n\n

Disponibili pacchetti software per entrambe le aree di applicazione<\/h3>\n\n\n\n

ZEISS O-INSPECT<\/strong> duo <\/strong>dispone di due programmi software dedicati alle applicazioni di microscopia e metrologia: ZEISS CALYPSO e ZEISS ZEN core<\/strong>. Ci\u00f2 significa che gli utenti dei rispettivi settori non devono imparare alcun nuovo software.
Le diverse funzioni di ZEISS CALYPSO<\/strong> sfruttano l’intero potenziale degli strumenti di misura ZEISS<\/strong>. Il software fornisce supporto per la creazione automatica di piani di ispezione e per la creazione di versioni di diverse varianti di piani di ispezione, per l’ottimizzazione e l’applicazione di strategie di misura specifiche per l’azienda e per una potente visualizzazione dei risultati di misura. ZEISS CALYPSO<\/strong> offre opzioni di visualizzazione che consentono di risparmiare tempo per le applicazioni metrologiche: i modelli CAD possono essere visualizzati sovrapposti e le possibili deviazioni (tra valori effettivi e valori target) possono essere riconosciute rapidamente. Grazie a una serie di estensioni opzionali, ZEISS CALYPSO<\/strong> offre anche strumenti per esigenze particolari.
ZEISS ZEN<\/strong> core \u00e8 la controparte per la microscopia multimodale in rete<\/strong> e pu\u00f2 fare molto di pi\u00f9 del semplice imaging: la suite software fornisce l’infrastruttura per gli ambienti di laboratorio in rete ed \u00e8 una soluzione completa per l’imaging, la segmentazione, l’analisi e la connettivit\u00e0 dei dati nei laboratori di materiali in rete. Offre funzioni complete come la scansione, lo stitching e il rilevamento automatico degli errori, oltre a un’interfaccia utente standardizzata per tutti i microscopi e le telecamere ZEISS<\/strong>. Quando si lavora in flussi di lavoro multimodali, \u00e8 possibile accedere ai dati di imaging e analisi di tutti i dispositivi.<\/p>\n\n\n\n

Ergonomia e sicurezza per la massima facilit\u00e0 d’uso<\/h3>\n\n\n\n

ZEISS<\/strong> non si limita a porre i massimi requisiti tecnici in termini di qualit\u00e0, affidabilit\u00e0 e velocit\u00e0: i prodotti devono anche essere sicuri, ergonomici e facili da usare. ZEISS O-INSPECT<\/strong> duo <\/strong>\u00e8 quindi dotato di utili funzioni, tra le quali il sistema di prelievo pallet integrato con interfaccia per il rilevamento automatico della temperatura che consente di risparmiare tempo e garantisce una maggiore affidabilit\u00e0. Il pallet opzionale con dispositivo di contenimento \u00e8 invece indicato per pezzi piatti e consente un facile trasporto e un fissaggio sicuro alla macchina.
Grazie all’opzione di ritrazione del telaio di base, ZEISS O-INSPECT<\/strong> duo <\/strong>pu\u00f2 essere trasportato facilmente e comodamente nel luogo di installazione desiderato utilizzando un transpallet e posizionato in modo ottimale. Anche il supporto del pannello di controllo pu\u00f2 essere fissato in modo flessibile su qualsiasi lato del dispositivo di misura, garantendo cos\u00ec un’accessibilit\u00e0 e un’operativit\u00e0 ottimali.<\/p>\n\n\n\n

Numerosi punti di forza<\/h3>\n\n\n\n

Per supportare le misure ottiche<\/strong>, ZEISS O-INSPECT duo<\/strong> \u00e8 dotato di una luce anulare regolabile individualmente, con la quale i componenti possono essere illuminati in modo ottimale. La luce anulare \u00e8 costituita da un anello interno ed esterno con LED bianchi che possono essere controllati individualmente in 16 segmenti. Insieme all’ottica coordinata, i LED esterni consentono di filtrare la luce ambientale di disturbo e di illuminare, ad esempio, materiali colorati con un elevato contrasto. La luce dell’anello interno, a sua volta, aumenta i contrasti nella struttura della superficie e quindi migliora la messa a fuoco, ad esempio, per risultati di misura ancora pi\u00f9 precisi.
Il dispositivo \u00e8 inoltre equipaggiato in modo ideale per resistere alle vibrazioni del pavimento, che possono variare di intensit\u00e0 in ogni sito di installazione. Un sistema opzionale di isolamento pneumatico delle vibrazioni, installabile a posteriori, elimina le vibrazioni pi\u00f9 forti e dirompenti nell’ambiente di misura, riducendo cos\u00ec le imprecisioni di misurazione.
\u00c8 disponibile anche una soluzione per documentare e visualizzare in modo affidabile e chiaro i dati di misura con un solo clic: ZEISS PiWeb<\/strong>. Il software di reporting e di gestione dei dati di qualit\u00e0<\/strong> combina i risultati di misura di varie tecnologie di misurazione direttamente con le decisioni prese nell’impianto di produzione per un efficiente monitoraggio della qualit\u00e0 della produzione. ZEISS PiWeb<\/strong> supporta le decisioni di produzione e consente agli utenti di effettuare analisi dei sistemi di misura, controllare facilmente la gestione dei dati di qualit\u00e0, integrare e lavorare senza problemi con i dati manuali e generare statistiche informative. Il software offre numerosi modelli di report standard per la visualizzazione di questi dati.<\/p>\n\n\n\n

Per ogni applicazione di misurazione ottica<\/h3>\n\n\n\n

Scoprire il mondo da una prospettiva diversa: \u00e8 questo l’obiettivo di ZEISS Optical Series<\/strong>, che ha sviluppato una nuova generazione di strumenti di misura ottici basati su molti anni di lavoro di sviluppo, un intenso dialogo con i clienti e standard di qualit\u00e0 in costante aumento. La gamma di prodotti \u00e8 composta da modelli personalizzati in base alle esigenze dell\u2019utente, che forniscono risultati di misura rapidi e precisi grazie all’illuminazione variabile, a una telecamera ad alta risoluzione e a un software sofisticato. Questo li rende indicati per componenti particolarmente piccoli, angolati e facilmente deformabili o graffiati.
Le soluzioni della serie ottica ZEISS vanno dal nuovo microscopio di misura ZEISS O-INSPECT duo<\/strong> al dispositivo di misura puramente ottico ZEISS O-DETECT<\/strong> e alla soluzione multisensore ZEISS O-INSPECT<\/strong>. Tutti i modelli sono disponibili in diverse versioni con volumi di misura differenti, per garantire la qualit\u00e0 di componenti di qualsiasi dimensione.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

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